产品详情
  • 产品名称:研究型晶元检测显微镜

  • 产品型号:BCM-700E
  • 产品厂商:其它品牌
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简单介绍:
大平台明暗场 BCM-700E研究型晶元检测显微镜配有明暗场物镜和正交偏光装置主要用于半导体硅晶片检测、LCD液晶屏检测、实验室材料分析及精密工程检测领域,可对样品进行明场、暗场及偏光观察。
详情介绍:
BCM-700E研究型晶元检测显微镜性能特点
系统采用无限远平场消色差、长工作距、明暗场两用物镜,成像清晰、像面平坦
配备反射式柯拉照明系统,为不同倍率的物镜提供均匀充足的照明
正像三通观察筒,25°倾斜,极大的提高了观察的舒适性与操作的适应性
配备了移动平台280mmX280mm
蕞佳人机学设计,高刚性镜臂,"Y"型底座,调焦机构采用前置式操作控制,粗微调同轴
三、技术参数
光学系统
无限远色差校正光学系统
物镜
无限远平场消色差,长工作距离金相物镜(明暗场两用),5X、10X、20X、50X、80X
目镜
高眼点平场目镜,PL10X,线视场φ22mm
观察筒
正像,铰链式三目,25°倾斜,分光比:双目100%,三目100%
照明系统
反射式柯拉照明,明暗场切换,带简易偏光接口,12V/100W卤素灯,预置中心
采用数字调光,具有光强设定与复位功能,带针孔光栏
调焦机构
粗微调同轴,带粗调上限位、松紧调节装置和随机限位装置
粗调行程:33mm(焦后1mm),微调精度:0.001mm
蕞大样品高度:32mm
物镜转换器
内定位、内倾式、五孔、明暗场两用物镜转换器
载物台
机械移动平台280mmX280mm,移动行程:204mmX204mm低位同轴调节,带离合器控制手柄,可快速移动
机架
全新的人机工程学设计,高刚性镜臂,"Y"型底座,前置式操作控制
 
观察筒
正像观察筒,物的移动与像的移动方向一致,不会出现使用倒像观察筒时物像方向相反而产生的错觉。避免操作失误,提高工作效率。
1、铰链式观察筒,25°倾斜,视度调节(±5)
2、分光比:双目100%,三目100%
3、瞳距调节(54-75mm),无需筒长补偿
粗微动同轴调焦机构
1、采用新型导轨机构,粗微动同轴
2、低手位设计,操作舒适
3、带有粗调松紧调节装置和随机限位装置
4、调焦行程:33mm
5、调焦精度:0.001mm
6、蕞大样品高度:32mm
机械移动载物台
1、双层机械移动式,带离合器控制手柄,可快速移动
2、特殊材料制造、特殊工艺处理,耐磨耐腐蚀
3、低手位同轴调节手柄,操作更加舒适
4、机械移动平台280mmX280mm,移动行程:204mmX204mm
离合器控制手柄--通过离合控制,可以脱开手轮传动从而实现快速无阻移动,提高大面积样品检测时的移动效率
照明系统
1、12V/100W卤素灯,预置中心
2、90V-240V宽电压,旋钮式数字调光
3、具有光强设定与复位功能,用于特定观察或拍摄照片
4、反射式柯拉照明,带视场光栏与孔径光栏,均可调中心
5、推拉式针孔光栏,主要用于50X以上的物镜,观察高景深高对比度
物镜转换器
1、内定位内倾式、五孔明暗场两用物镜转换器
2、物镜的安装和操作更为便利
3、高精度制造,保证系统齐焦
偏光装置
S-PO起偏镜,S-AN检偏镜
 
目镜
目 镜
PL 10X/22(带防护罩)
视场数
22mm
 
物镜
1、无限远平场消色差,长工作距金相物镜(明暗场两用),提供优质图像
2、所有物镜都经过特殊工艺处理,延长使用寿命,保证图像长期清晰
类 别
倍率
数值孔径(N.A.)
工作距离(W.D.)
无限远平场
消色差物镜
(明暗场两用)
5X
0.17
12 mm
10X
0.25
6 mm
20X
0.40
5 mm
50X
0.70
2 mm
80X
0.80
1 mm
 
四、系统组成:
电脑型工业检测显微镜(BCM-700E):1、工业检测显微镜  2、CCD适配镜3、日本 SONY摄像机 4、数据采集卡
5、专业分析测量软件 6、品牌电脑组
数码型工业检测显微镜(BCM-700Z):1、工业检测显微镜 2、数码适配镜3、专业数码相机(日本尼康)
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